LSI-VLSI áramkörök felépítése, tesztelése, alkalmazása

TARTALOM Előszó 9 Bevezetés (Írta: dr. Masszi Ferenc) 11 A mikroelektronika fejlődésének legfontosabb következményei 11 Az integrált áramkörök fejlődése, a fejlődés korlátai 15 A VHSIC program 23 A program célkitűzései 23 A program ütemezése 26 A VLSI dáramkörök megjelensésének hatása az elektronika néhány területére 26 Mikroprocesszorok, mikrogépek 26 Hírközlő rendszerek 29 Igen nagy sebességű áramkörök 31 Irodalom 34 Technológia és konstrukció (Írta: dr. Masszi Ferenc) 35 Nagybonyolultságú integrált áramkörök gyártásának technológiai problémái 35 A szilícium alapanyag 36 Új fotolitográfia 37 Szárazmarási módszerek 39 Újfajta szigetelőrétegek 42 Többrétegű reziszt-technika 42 Lézeres hőkezelés 43 Nemoptikai ellenőrző rendszerek alkalmazása 44 Technológiák, logikaiáramkör-rendszerek bipoláris (V)LSI áramkörökhöz 45 Nagybonyolultságú, bipoláris integrált áramkörök alapelemei 46 I2L áramkörök 50 ECL áramkörök 56 Nagybonyolultságú MOS áramkörrendszerek 58 MOS tranzisztor és nMOS alaptechnológia 58 Rövid csatornájú MOS tranzisztorok 60 MOS digitális alapáramkörök 67 Dinamikus alapáramkörök 76 Speciális MOS tranzisztorok nagybonyolultságú integrált áramkörök számára 83 Nagybonyolultságú integrált áramkörök számítógépes tervezési módszerei 85 Áramkörszimuláció 88 Logikai szimuláció 90 A számítógéppel segített layout tervezés 94 Félvezető tárak 98 Dinamikus MOS tárolócellák 98 töltéscsatoslt (CC) cella 109 Nagykapacitású (Hi-C) cella 110 Többszintes (STC) cella 112 VMOS cella 113 Átszúrásos RAM cellák 114 Eltemetett bitvezetékes (BBL, buried bit line) cella 115 Rétegezett töltésű (SCM, statified charge memory) cella 116 Fokozatosan elvékonyodó szigetelésű, dinamikus erősítésű (TIDG) cella 117 A különböző különleges cellák összehasonlítása 118 Berendezésorientált áramkörök 120 Full custom (egyedi tervezésű) áramkör 121 Library custom (előtervezett cellákból felépített) áramkörök 122 Félkész berendezésorientált áramkörök (semi custtom) 123 VLSI áramkörök tesztelhetőségre tervezése 123 A tesztelhetőség 123 A tesztelhetőség analízise és mérése 124 A tesztelhetőség számítása 124 A tesztelhetőségre tervezés módszerei 129 Önellenőrzés (self verification) 134 Irodalom 135 Tesztelés (Írta: dr. Szamosközi Zoltán) 137 A tesztelés problémaköre 137 Szintek 138 Költségek 139 Módszerek 140 RAM-ellenőrző algoritmusok 142 HIbamodellek 143 143 Lépésszám 145 Realizálhatóság 156 A vizsgálatok összeállítása 158 Fixtárak ellenőrzése 167 Az etalonvizsgálat 170 Tárolt mintás vizsgálat 171 Adatkompressziós módszerek 172 Az adattárolási idő ellenőrzése 179 A módszerek alkalmazása 180 Mikroprocesszorok vizsgálati módszerei 181 Hibaosztályok 182 Mérési stratégia 185 Diagnosztikai tesztek 189 Mintagenerálási lehetőségek 193 Néhány példa 194 A tesztelés ára 198 Az áramkörök gyártási költsége 199 A tesztelési költség modellezése 202 Mintapéldák a tesztelés költségtényezőinek számítása 205 Irodalom 208 LSI-VLSI mérőrendszerek (Írta: dr. Szamosközi Zoltán) 215 Alapkövetelmények és alapstruktúrák 215 Az áramkör és a mérőrendszer-jellemzők kapcsolata 215 A mérési módszerek és a mérőrendszer-jellemzők kapcsolata 218 A mérőrendszerek általános felépítése 219 Univerzális és célorientált mérőrendszerek 222 Általános jellemzők 222 Mintagenerátor 226 Időzítőegység 243 Pinelektronika-vezérlő 262 DC egység 273 Dinamikus paraméterek mérése 279 Számítógép és perifériák 281 Kiegészítő információk 284 Egyszerű teszterek 288 Kiegészítő eszközök 293 Szoftver szolgáltatások 295 Alapszoftver 298 Mérőprogram készítésének támogatása 300 Statisztikai programok 301 Rendszerteszt 302 A megbízhatóságvizsgálat eszközei 303 A megbízhatatlanság okai 305 Burn-in teszterek 308 A hazai eredmények és a szocialista országokból beszerezhető eszközök 314 Az első generáció 315 A második generáció 333 A harmadik generáció 335 Példák megvalósított LSI-VLSI áramkörökre (Írta: dr. Masszi Ferenc) 343 16 bites mikroprocesszorok 343 Az Intel 8086 344 A Zilog Z 8001 és Z 8002 365 Berendezésorientált integrált áramkörök 390 Az U 400 típusú gate array 390 GA 800 típusú gate array 393 Irodalom 399 Tárgymutató 401